雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能?？蓮V泛應(yīng)用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：可同時(shí)完成DC和RF測(cè)試大手柄雙驅(qū)動(dòng)，省時(shí)，省力，省心雙光路系統(tǒng)，上光路可升級(jí)加載光電流系統(tǒng)。芯片內(nèi)部線路/pad/電級(jí)的IV/CV測(cè)試l材料/器件的IV/CV性能測(cè)試及FAl芯片/面板內(nèi)部線路修改/去層（介質(zhì)絕緣層/鈍化層l可對(duì)金屬線路層激光斷線或開路進(jìn)行熔接l激光可選擇性去除特定材料而不損傷下層或基底l激光小加工精度11μml芯片研發(fā)流片驗(yàn)證+失效分析l激光打標(biāo)LaserMarklLasercut、Laserweld、Laserrepaill超快短脈沖激光精細(xì)微加工修復(fù)系統(tǒng)探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于科研單位研發(fā)測(cè)試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。CV測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)

無論是芯片設(shè)計(jì)的可靠性驗(yàn)證測(cè)試，或是晶圓量產(chǎn)中的WAT測(cè)試和CP測(cè)試，探針臺(tái)在其中起著至關(guān)重要的作用。探針臺(tái)設(shè)備主要技術(shù)壁壘在系統(tǒng)的精細(xì)定位、微米級(jí)運(yùn)動(dòng)以及高準(zhǔn)確率通信等關(guān)鍵參數(shù)。目前全球主要探針臺(tái)市場仍主要被美、日、韓等國所占據(jù)。近年來在國家對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的大力扶持下，國產(chǎn)化技術(shù)的發(fā)展進(jìn)程不斷加快，中國半導(dǎo)體設(shè)備企業(yè)將加速迎來國產(chǎn)替代的機(jī)會(huì)。在國內(nèi)半導(dǎo)體設(shè)備市場中，探針臺(tái)是我國目前能實(shí)現(xiàn)高國產(chǎn)化率的設(shè)備。高低溫探針臺(tái)規(guī)格手動(dòng)探針臺(tái)的工作原理。

探針臺(tái)應(yīng)用手動(dòng)探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于，科研單位研發(fā)測(cè)試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。一般使用于研發(fā)測(cè)試階段 ，批量不是很大的情況，大批量的重復(fù)測(cè)試推薦使用探卡。主要功能：搭配外接測(cè)試測(cè)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀、示波器、網(wǎng)分等測(cè)試源表，量測(cè)半導(dǎo)體器件IV CV脈沖/動(dòng)態(tài)IV等參數(shù)。用途：以往如果需要測(cè)試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能（如電流、電壓、阻抗等）或工作狀態(tài)，測(cè)試人員一般會(huì)采用表筆去點(diǎn)測(cè)。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于精密微?。{米級(jí)）的微電子器件（如IC、晶圓、芯片、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector），表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來，便于其電性測(cè)試設(shè)備（不屬于本機(jī)器）對(duì)此測(cè)試、分析。

桌面探針系統(tǒng)之射頻探針：把傳統(tǒng)探針臺(tái)的體積大、待測(cè)物規(guī)格限制等一系列缺點(diǎn)改進(jìn)。我們把探針臺(tái)的兩個(gè)探針臂直接分離出來，使用磁吸開關(guān)固定在配重塊上，裝配我們自行研發(fā)GS/SG/GSG/GSSG和差分間距可調(diào)射頻探針，高頻率40GHz和67GHz（質(zhì)量的阻抗控制50歐±2/100歐±2，探針的pitch可覆蓋150um~1250um的范圍）放在水平的桌面上進(jìn)行使用、測(cè)試?？稍谧烂嫔先我饣顒?dòng)，根據(jù)具體測(cè)試環(huán)境調(diào)節(jié)。各規(guī)格探針配合67GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行高頻高速的測(cè)試。雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求。

探針臺(tái)主要被應(yīng)用在半導(dǎo)體、集成電路以及封裝的測(cè)試，主要是保證產(chǎn)品的質(zhì)量，且縮短制造成本。按照不同功能，探針臺(tái)可被分為多種類型，如LCD探針臺(tái)、高/低溫探針臺(tái)、RF探針臺(tái)。受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，探針臺(tái)應(yīng)用需求持續(xù)攀升，行業(yè)發(fā)展前景較好。半導(dǎo)體檢測(cè)是半導(dǎo)體生產(chǎn)中關(guān)鍵一環(huán)，在半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備市場結(jié)構(gòu)中，探針臺(tái)占比約為16%。在全球中，受益于智能手機(jī)、人工智能等產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，半導(dǎo)體需求攀升，半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備市場規(guī)模也隨之增長，在2021年達(dá)到76億美元。探針臺(tái)作為重要設(shè)備，受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展，市場需求持續(xù)攀升，市場規(guī)模持續(xù)增長。探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)。成都探針臺(tái)調(diào)試

探針臺(tái)的維護(hù)和保養(yǎng)。CV測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)

光電流測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)是在金相顯微鏡基礎(chǔ)上導(dǎo)入另一路光源，用于輻照樣品以測(cè)試樣品在特定波長及能量下的電氣特性等測(cè)試目的。l本顯微鏡設(shè)計(jì)為雙光路或3光路，其中一路為導(dǎo)入光通路，另一到兩路為成像光路導(dǎo)入光為平行的激光或其它線性光源，波長范圍200nm~20000nm，中間可加入多個(gè)波片過濾，起偏及偏振角度無級(jí)360度調(diào)節(jié)。光斑輻照直徑有650nm紅光指示。l所有模塊均可拉出設(shè)計(jì)，對(duì)導(dǎo)入光性質(zhì)無影響。導(dǎo)入光光路可選擇一個(gè)光時(shí)間開關(guān)，精確控制導(dǎo)入光的輻照時(shí)間，精度1ms，范圍2ms~∞，在控制界面上可對(duì)各種參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)設(shè)置。成像光路為同軸照明金相成像，其中一路為1倍成像，可選擇第2路成像，為物鏡的0.25~10倍率，通常在高低溫測(cè)試系統(tǒng)里會(huì)用到，同一個(gè)物鏡不切換，得到兩個(gè)不同視野的成像。CV測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)

上海波銘科學(xué)儀器有限公司成立于2013-06-03年，在此之前我們已在拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器行業(yè)中有了多年的生產(chǎn)和服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，深受經(jīng)銷商和客戶的好評(píng)。我們從一個(gè)名不見經(jīng)傳的小公司，慢慢的適應(yīng)了市場的需求，得到了越來越多的客戶認(rèn)可。公司業(yè)務(wù)不斷豐富，主要經(jīng)營的業(yè)務(wù)包括：拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器等多系列產(chǎn)品和服務(wù)?？梢愿鶕?jù)客戶需求開發(fā)出多種不同功能的產(chǎn)品，深受客戶的好評(píng)。愛特蒙特嚴(yán)格按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行生產(chǎn)研發(fā)，產(chǎn)品在按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試完成后，通過質(zhì)檢部門檢測(cè)后推出。我們通過全新的管理模式和周到的服務(wù)，用心服務(wù)于客戶。愛特蒙特秉承著誠信服務(wù)、產(chǎn)品求新的經(jīng)營原則，對(duì)于員工素質(zhì)有嚴(yán)格的把控和要求，為拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器行業(yè)用戶提供完善的售前和售后服務(wù)。

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